[MOS] Rout 에 대한 Halo IIP 효과

#1 Halo IIP

 

 

#2 Rout 특성 악화 

Tr. 을 크게 Halo IIP를 맞는 드레인 사이드와 소스와 채널이 존재하는 메인 사이드로 나누어서 생각해보자.

Tr(main) 의 Vth 가 Tr(drain) 보다 일반적으로 더 높기 때문에 드레인 영역에서는 핀치오프가 발생하여 상대적으로 Enormal 값이 작게된다. 

Tr(main) 이 linear mode에서 동작할 때는 이 핀치오프 포인트는 Tr(drain) 영역의 소스 방향으로 움직인다.

Gate Voltage가 커질 수록 Tr(main)의 Current는 증가되지만 이런 이유로 Rout 은 악화되게 된다.(감소한다)